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金属分析
辉光放电光发射光谱仪 (GDOES / GDS)
辉光光谱仪 GDS8000
零件号:
GDS8000
GDS8000是一款高性能辉光放电光发射光谱仪，专为固体材料的快速深度剖析和表层元素分析而设计。符合严格的国家标准（GB/T19502、GB/T22368、GB/T22462），适用于半导体、光伏、电池和纳米材料等行业中的涂层、多层结构和超薄膜分析。它可实现快速、精确的逐层元素测定，无需样品溶解。
快速深度剖面分析
提供高溅射率 (> 1 µm/min) 和出色的深度分辨率 (1–2 nm)，覆盖范围从 1 nm 到 200 µm。
宽光谱范围和高分辨率
波长覆盖范围 120–800 nm，光谱分辨率在 18–25 pm 之间，使用 PMT 探测器阵列。
多路复用元素检测
多达 48 个同步元素通道；无需稀释或样品预处理——实现直接固体样品分析。
统包深度剖面分析系统
集成的光机电设计确保坚固、精确的操作，非常适合表面和涂层表征。
符合标准且行业就绪
通过 GDOES 关键中国标准认证，适用于高端技术、涂层和电池材料分析。
| 规格 | 价值 |
|---|---|
| 型号 | GDS8000（也称GD OES8000） |
| 激发模式 | 直流或射频辉光放电 |
| 波长范围 | 120–800纳米 |
| 光谱分辨率 | 18–25皮米 |
| 深度分辨率 | 1–2纳米 |
| 溅射速率 | >1微米/分钟 |
| 深度范围 | 1纳米至200微米 |
| 光学焦距 | 998.8毫米 |
| 元素通道 | 48 |
| 探测器类型 | 光电倍增管（PMT） |
| 光电倍增管 (PMT) | 涂层和表面层分析，多层，纳米膜 |