Analyse élémentaire portable

Les dispositifs d’analyse élémentaire portables, tels que les analyseurs de fluorescence X portable (XRF) et de spectroscopie par ablation laser (LIBS), sont conçus pour des tests élémentaires rapides et non destructifs des métaux et alliages sur le terrain ou en atelier. Ces outils offrent des informations immédiates sur la composition des matériaux, permettant aux techniciens et ingénieurs d’effectuer l’identification positive des matériaux (PMI), le contrôle qualité, la vérification des alliages et le tri des rebuts grâce à une interface simple de type « pointer et mesurer ».